Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026| Название: | Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов |
| Авторы: | Добрускин, В. А. |
| Дата публикации: | 1973 |
| Издатель: | Томский политехнический университет |
| Библиографическое описание: | Добрускин В. А. Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов / В. А. Добрускин // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1973. — Т. 262 : Автоматизация промышленных установок. — [С. 185-187]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026 |
| Располагается в коллекциях: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-1973-v262-49_bw.pdf | Black-and-white version of the preview | 136,52 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
| bulletin_tpu-1973-v262-49_full.pdf | Color version | 3,36 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.