Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026
Название: Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов
Авторы: Добрускин, В. А.
Дата публикации: 1973
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Добрускин В. А. Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов / В. А. Добрускин // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1973. — Т. 262 : Автоматизация промышленных установок. — [С. 185-187].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-1973-v262-49_bw.pdfBlack-and-white version of the preview136,52 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
bulletin_tpu-1973-v262-49_full.pdfColor version3,36 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.