О повышении контраста электронного изображения путем отсечки "медленных" электронов

Abstract

Рентгеновский метод контроля внутренней структуры материалов малой плотности и малой толщины не обеспечивает достаточно высокой контрастной чувствительности при энергиях излучения ниже 10 кэв. В то же время электронные пучки своими свойствами и особенностями взаимодействия с веществом обеспечивают требуемую для интроскопии чувствительность. Это достигается путем селекции электронного потока, прошедшего сквозь исследуемый объект, по энергиям и углам рассеяния и последующего преобразования пространственно-частотной функции распределения плотности этого потока в видимое изображение. Показано, что такой принцип контрастирования изображений, получаемых с помощью бетатронных электронных интроскопов, достаточно эффективен и прост в реализации.