Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336
Название: Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути
Авторы: Селиванов, П. Е.
Ключевые слова: тестирование; комбинационные схемы; проектирование; цифровые устройства; логические схемы
Дата публикации: 2015
Библиографическое описание: Селиванов П. Е. Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути / П. Е. Селиванов // Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине : сборник научных трудов II Международной конференции, 19-22 мая 2015 г., Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 209-210].
Аннотация: In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2015-C24-092.pdf390,92 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.