Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336
Название: | Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути |
Авторы: | Селиванов, П. Е. |
Ключевые слова: | тестирование; комбинационные схемы; проектирование; цифровые устройства; логические схемы |
Дата публикации: | 2015 |
Библиографическое описание: | Селиванов П. Е. Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути / П. Е. Селиванов // Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине : сборник научных трудов II Международной конференции, 19-22 мая 2015 г., Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 209-210]. |
Аннотация: | In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336 |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2015-C24-092.pdf | 390,92 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.