Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22384
Название: Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective
Авторы: Sukhikh, Leonid Grigorievich
Artyukov, Igor
Bajt, Sasa
Kube, Gero
Lauth, Werner
Potylitsyn, Alexander Petrovich
Vukolov, Artem Vladimirovich
Ключевые слова: измерения; свет; переходные излучения; изображения; пучки; электронные ускорители
Дата публикации: 2015
Библиографическое описание: Micron-scale vertical beam size measurements based on transition radiation imaging with a Schwarzschild objective / L. G. Sukhikh [et al.] // RREPS-15. Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures : XI International Symposium, 6-11 September 2015, Saint Petersburg, Russia. — Tomsk : TPU Publishing House, 2015. — [P. 88].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/22384
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2015-C64-059.pdf77,73 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.