Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/25106
Название: Диагностика сплошности диэлектрических покрытий печатных плат
Авторы: Меженский, Алексей Анатольевич
Научный руководитель: Лавринович, Валерий Александрович
Ключевые слова: диэлектрическое покрытие; печатная плата; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; диэлектрическое покрытие; печатная плата; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона
Дата публикации: 2016
Библиографическое описание: Меженский А. А. Диагностика сплошности диэлектрических покрытий печатных плат : дипломный проект / А. А. Меженский ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016.
Аннотация: Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрического покрытия печатных плат методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение спроектированной установки в производство позволит сократить число бракованных изделий. Причина выхода из строя которых является наличие дефектов в диэлектрических покрытиях.
Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрического покрытия печатных плат методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение спроектированной установки в производство позволит сократить число бракованных изделий. Причина выхода из строя которых является на
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/25106
Располагается в коллекциях:ВКР

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
TPU141367.pdf857,25 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.