Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Название: Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов
Авторы: Рахимов, Рафаэль Саматович
Научный руководитель: Лавринович, Валерий Александрович
Ключевые слова: диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой; диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой
Дата публикации: 2016
Библиографическое описание: Рахимов Р. С. Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов : дипломный проект / Р. С. Рахимов ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016.
Аннотация: Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение
Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Располагается в коллекциях:ВКР

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
TPU138282.pdf1,05 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.