Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33728
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorGubarev, Fedor Aleksandrovichen
dc.contributor.authorKlenovskii (Klenovsky), Miron Stanislavovichen
dc.date.accessioned2016-11-24T09:57:04Z-
dc.date.available2016-11-24T09:57:04Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationGubarev F. A. A Long Pulse CuBr Vapor Oscillator for Laser Monitor Applications / F. A. Gubarev, M. S. Klenovskii (Klenovsky) // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015) : III All-Russian Scientific and Practical Conference, 27–31 July 2015, Altai, Russia : [proceedings]. — [012019, 6 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/33728-
dc.description.abstractThe paper discusses the perspectives of application of a long pulse CuBr vapor oscillator for laser monitors. The influence of excitation conditions of the copper bromide vapor laser on the lasing pulse duration is discussed. It is revealed that increased pulse duration of lasing up to 200 ns and more is observed in unstable mode of the discharge. Laser monitors based on the long lasing pulse CuBr vapor oscillators can be demanded for distant objects monitoring.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectосцилляторыru
dc.subjectлазерные мониторыru
dc.subjectимпульсыru
dc.subjectгенерацияru
dc.subjectдистанционный мониторингru
dc.titleA Long Pulse CuBr Vapor Oscillator for Laser Monitor Applicationsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)ru
local.description.firstpage12019-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012019-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\12296-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18719-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31657-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36126-
local.localtypeДокладru
local.volume6712015-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/671/1/012019-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-671-1-012019.pdf732,57 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.