1. Электронный архив ТПУ
  2. Наука
  3. Материалы конференций
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33761
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSoldatov, Aleksey Ivanovichen
dc.contributor.authorSoldatov, Andrey Alekseevichen
dc.contributor.authorKostina, M. A.en
dc.contributor.authorTolkatchev, V. F.en
dc.date.accessioned2016-11-24T09:57:19Z-
dc.date.available2016-11-24T09:57:19Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationSimulation of Surface Oscillation of Ultrasound Sensor Based on Piezoelectric Semiconductor Transducer / A. I. Soldatov [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015) : III All-Russian Scientific and Practical Conference, 27–31 July 2015, Altai, Russia : [proceedings]. — [012054, 6 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/33761-
dc.description.abstractIn the article theoretical and experimental studies of the surface deformation of piezoelectric sensors are carried out. Round membrane was used as a model of piezoelectric sensors. Experimental studies were conducted on mass-produced sensors and self-made sensor. Good match fluctuations in membrane model with fixed edges real sensors is shown.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectповерхностные колебанияru
dc.subjectультразвуковые датчикиru
dc.subjectполупроводникиru
dc.subjectпреобразователиru
dc.subjectдеформацииru
dc.subjectповерхностиru
dc.subjectпьезоэлектрические датчикиru
dc.titleSimulation of Surface Oscillation of Ultrasound Sensor Based on Piezoelectric Semiconductor Transduceren
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)ru
local.description.firstpage12054-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012054-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\12350-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18719-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31243-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\35417-
local.localtypeДокладru
local.volume6712015-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/671/1/012054-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-671-1-012054.pdf1,05 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика   Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.