Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33765
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSukharnikov, Konstantin Vladimirovichen
dc.contributor.authorRychkov, Maksim Mikhailovichen
dc.contributor.authorGentselman, Valentinen
dc.date.accessioned2016-11-24T09:57:21Z-
dc.date.available2016-11-24T09:57:21Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationSukharnikov K. V. Focal Spot Size Estimation for a 4 MeV Small-size Betatron Using Digital X-ray Detector / K. V. Sukharnikov, M. M. Rychkov, V. Gentselman // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015) : III All-Russian Scientific and Practical Conference, 27–31 July 2015, Altai, Russia : [proceedings]. — [012058, 6 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/33765-
dc.description.abstractOne of the main advantages of small-size betatrons is small focal spot size. However there is no conventional procedure of focal spot size measurement for betatrons. Techniques described in standards are suitable only for low- and mid-energy tubes. The task become more complex if the focal spot size should be estimated quickly using modern digital detectors. In this paper we present preliminary results of focal spot size measurement of a 4 MeV small-size betatron with two different procedures using digital x-ray detector.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectбетатроныru
dc.subjectцифровые детекторыru
dc.subjectрентгеновские детекторыru
dc.subjectфокусные пятнаru
dc.titleFocal Spot Size Estimation for a 4 MeV Small-size Betatron Using Digital X-ray Detectoren
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Лаборатория № 42 (Сильноточных бетатронов)ru
local.description.firstpage12058-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012058-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\12358-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\19919-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\34918-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\32262-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36460-
local.localtypeДокладru
local.volume6712015-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/671/1/012058-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-671-1-012058.pdf631,18 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.