Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33768
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTorgaev, Stanislav Nikolaevichen
dc.contributor.authorTrigub, Maksim Viktorovichen
dc.contributor.authorEvtushenko, Gennady Sergeevichen
dc.contributor.authorEvtushenko, T. G.en
dc.date.accessioned2016-11-24T09:57:23Z-
dc.date.available2016-11-24T09:57:23Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationHigh Prf Metal Vapor Laser Active Media For Visual And Optical Monitoring / S. N. Torgaev [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015) : III All-Russian Scientific and Practical Conference, 27–31 July 2015, Altai, Russia : [proceedings]. — [012060, 6 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/33768-
dc.description.abstractIn this paper the feasibility of using metal vapor lasers for visual and optical monitoring of fast processes is discussed. The theoretical calculations consistent with the experimental study have been performed. The possibility of visualizing objects with pulse repetition frequency of the brightness amplifier up to 60 kHz has been demonstrated. The visualization results of the corona discharge are also given.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectмониторингru
dc.subjectоптический мониторингru
dc.subjectлазеры на парах металловru
dc.subjectбыстрые процессыru
dc.subjectвизуализацияru
dc.subjectкоронные разрядыru
dc.titleHigh Prf Metal Vapor Laser Active Media For Visual And Optical Monitoringen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)ru
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт физики высоких технологий (ИФВТ)::Кафедра сильноточной электроники (СЭ)ru
local.description.firstpage12060-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012060-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\12360-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18719-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18691-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31663-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31242-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\29009-
local.localtypeДокладru
local.volume6712015-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/671/1/012060-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-671-1-012060.pdf831,33 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.