Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/35670
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Kuznetsov, Pavel Viktorovich | en |
dc.contributor.author | Mironov, Yu. P. | en |
dc.contributor.author | Tolmachev, A. I. | en |
dc.contributor.author | Rakhmatulina, T. V. | en |
dc.contributor.author | Bordulev, Yuri Sergeevich | en |
dc.contributor.author | Laptev, Roman Sergeevich | en |
dc.contributor.author | Lider, Andrey Markovich | en |
dc.contributor.author | Mikhailov, Andrey Anatolievich | en |
dc.contributor.author | Korznikov, A. V. | en |
dc.date.accessioned | 2016-12-28T16:37:14Z | - |
dc.date.available | 2016-12-28T16:37:14Z | - |
dc.date.issued | 2014 | - |
dc.identifier.citation | Positron annihilation spectroscopy of vacancy-type defects hierarchy in submicrocrystalline nickel during annealing / P. V. Kuznetsov [et al.] // AIP Conference Proceedings. — 2014. — Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014 : [proceedings]. — [P. 327-330]. | en |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/35670 | - |
dc.description.abstract | Positron annihilation and X-ray diffraction analysis have been used to study submicrocrystalline nickel samples prepared by equal channel angular pressing. In the as-prepared samples the positrons are trapped at dislocation-type defects and in vacancy clusters that can include up to 5 vacancies. The study has revealed that the main positron trap centers at the annealing temperature of deltaT= 20°C-180°C are low-angle boundaries enriched by impurities. At deltaT = 180°C-360°C, the trap centers are low-angle boundaries providing the grain growth due to recrystallization in-situ. | en |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | AIP Publishing | ru |
dc.relation.ispartof | AIP Conference Proceedings. Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014. — New York, 2014. | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | submicrocrystalline structure | ru |
dc.subject | subgrain | ru |
dc.subject | grain boundary | ru |
dc.subject | low-angle boundary | ru |
dc.subject | positron annihilation | ru |
dc.subject | dislocations | ru |
dc.subject | vacancy cluster | ru |
dc.subject | annealing | ru |
dc.subject | аннигиляция | ru |
dc.subject | позитроны | ru |
dc.subject | спектроскопия | ru |
dc.subject | дефекты | ru |
dc.subject | никель | ru |
dc.subject | отжиг | ru |
dc.subject | субмикрокристаллические структуры | ru |
dc.title | Positron annihilation spectroscopy of vacancy-type defects hierarchy in submicrocrystalline nickel during annealing | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePaper | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра общей физики (ОФ) | ru |
local.description.firstpage | 327 | - |
local.description.lastpage | 330 | - |
local.filepath | http://dx.doi.org/10.1063/1.4901488 | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\network\5927 | - |
local.identifier.colkey | RU\TPU\col\18734 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\34499 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\31883 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\31884 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\30400 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\37483 | - |
local.localtype | Доклад | ru |
local.volume | 16232014 | - |
local.conference.name | International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems | - |
local.conference.date | 2014 | - |
dc.identifier.doi | 10.1063/1.4901488 | - |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
dx.doi.org-10.1063-1.4901488.pdf | 432,83 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.