Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/35726
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorChumaevsky, Andrey Valerjevichen
dc.contributor.authorTarasov, Sergei Yulievichen
dc.contributor.authorLychagin, Dmitry Vasilievichen
dc.date.accessioned2016-12-28T16:37:46Z-
dc.date.available2016-12-28T16:37:46Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.citationChumaevsky A. V. Plastic strain arrangement in copper single crystals in sliding / A. V. Chumaevsky, S. Yu. Tarasov, D. V. Lychagin // AIP Conference Proceedings. — 2014. — Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014 : [proceedings]. — [P. 91-94].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/35726-
dc.description.abstractDeformation of tribologically loaded contact zone is one of the wear mechanisms in spite of the fact that no mass loss may occur during this process. Generation of optimal crystallographic orientations of the grains in a polycrystalline materials (texturing) may cause hardening and reducing the deformation wear. To reveal the orientation dependence of an individual gain and simplify the task we use copper single crystals with the orientations of the compression axis along [11 1] and [110]. The plastic deformation was investigated by means of optical, scanning electron microscopy and EBSD techniques. It was established that at least four different zones were generated in the course of sliding test, such as non-deformed base metal, plastic deformation layer sliding, crystalline lattice reorientation layer and subsurface grain structure layer. The maximum plastic strain penetration depth was observed on [110]-single crystals. The minimum stability of [11 1]-crystals with respect to rotation deformation mode as well as activation of shear in the sliding contact plane provide for rotation deformation localization below the worn surface. The high-rate accumulation of misorientations and less strain penetration depth was observed on [11 1]-crystals as compared to those of [110]-oriented ones.en
dc.language.isoenen
dc.publisherAIP Publishingru
dc.relation.ispartofAIP Conference Proceedings. Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014. — New York, 2014.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectдеформацииru
dc.subjectмонокристаллыru
dc.subjectмедьru
dc.subjectтрениеru
dc.subjectполикристаллические материалыru
dc.subjectпластические деформацииru
dc.subjectоптическая микроскопияru
dc.subjectсканирующая электронная микроскопияru
dc.titlePlastic strain arrangement in copper single crystals in slidingen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт физики высоких технологий (ИФВТ)::Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ)ru
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ)::Кафедра технологии машиностроения (ТМС)ru
local.description.firstpage91-
local.description.lastpage94-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1063/1.4898890-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\4539-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18687-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18902-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31400-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31402-
local.localtypeДокладru
local.volume16232014-
local.conference.nameInternational Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems-
local.conference.date2014-
dc.identifier.doi10.1063/1.4898890-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1063-1.4898890.pdf2,48 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.