Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/40711
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorСолдатов, Алексей Ивановичru
dc.contributor.authorЧэнь Цзянкуньru
dc.date.accessioned2017-06-16T08:34:28Z-
dc.date.available2017-06-16T08:34:28Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationЧэнь Цзянкунь Ультразвуковой дефектоскоп для контроля изделий теневым методом : бакалаврская работа / Чэнь Цзянкунь ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт социально-гуманитарных технологий (ИСГТ), Кафедра междисциплинарная (МД) ; науч. рук. А. И. Солдатов. — Томск, 2017.-
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/40711-
dc.description.abstractУльтразвуковой дефектоскоп для контроля изделий теневым методом. Теоретические исследования дефектометрических характеристик. Исследование глубины залегания дефектов и разрешающие способности дефектоскопа при различных условиях. Обоснование структурной схемы и разработка принципиальной схемы.ru
dc.description.abstractPhased-array ultrasonic for testing products by Acoustic image method. Theory analysis of ultrasonic inspection, study of hidden depth of defect and distinction characteristics. Design of circuit diagram?en
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoruen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess-
dc.subjectдефектru
dc.subjectультразвуковой дефектоскопru
dc.subjectтеневой методru
dc.subjectразрешающая способностьru
dc.subjectэлемент антенной решеткиru
dc.subjectdefecten
dc.subjectphased-array ultrasonicen
dc.subjectacoustic image methoden
dc.subjectdistinction characteristicsen
dc.subjectphased array uniten
dc.titleУльтразвуковой дефектоскоп для контроля изделий теневым методомru
dc.typeStudents work-
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт социально-гуманитарных технологий (ИСГТ)::Кафедра междисциплинарная (МД)-
local.institut7144-
local.localtypeСтуденческая работа-
dc.subject.oksvnk11.03.04-
local.thesis.levelБакалаврru
local.thesis.disciplineЭлектроника и наноэлектроника-
local.local-vkr-id229023-
local.vkr-id21295-
local.stud-group151А30-
local.lichnost-id151482-
local.thesis.level-id1-
local.tutor-lichnost-id61055-
dc.subject.udc620.179.16:535.31-
Располагается в коллекциях:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU410831.pdf1,34 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.