Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1007
Название: | Нанотвердость и износостойкость высокопрочных сталей 38ХНЗМФА и ШХ-15, имплантированных ионами (Al+B), (Ti+B), Ti |
Авторы: | Сунгатулин, А. Р. Сергеев, О. В. Пушкарева, Г. В. Сергеев, Виктор Петрович |
Ключевые слова: | нанотвердость; износостойкость; высокопрочные стали; ионы; поверхностные слои; образцы; облучение; пучки; механические свойства; облучение; структурно-фазовые состояния; элементный состав; приповерхностные слои; имплантация; просвечивающая электронная микроскопия; масс-спектрометрия |
Дата публикации: | 2006 |
Издатель: | Томский политехнический университет |
Библиографическое описание: | Нанотвердость и износостойкость высокопрочных сталей 38ХНЗМФА и ШХ-15, имплантированных ионами (Al+B), (Ti+B), Ti / В. П. Сергеев [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 1. — [С. 120-125]. |
Аннотация: | Исследовано изменение нанотвердости и износостойкости поверхностного слоя образцов сталей 38ХН3МФА и ШХ-15 при облучении пучками ионов (Al+B), (Ti+В) и Ti. Обнаружено более высокое увеличение механических свойств при облучении композициями ионов. Величина эффекта возрастает с увеличением дозы облучения. При этом наиболее значительное увеличение износостойкости наблюдается при облучении сталей ионами (Al+B), а нанотвердости - при облучении ионами (Ti+В). Интерпретация результатов основывается на изменении структурно-фазового состояния и элементного состава приповерхностного слоя при имплантации, которое исследовалось методами просвечивающей электронной микроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1007 |
Располагается в коллекциях: | Известия ТПУ |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
bulletin_tpu-2006-309-1-25.pdf | 713,24 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.