Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/135823| Название: | Сравнительный анализ нейросетевых моделей для прогнозирования степени технической годности литий-ионного аккумулятора |
| Авторы: | Хоанг, Ф. Н. |
| Научный руководитель: | Букреев, Виктор Григорьевич |
| Ключевые слова: | литий-ионные аккумуляторы; степень технической годности; нейросетевые модели |
| Дата публикации: | 2025 |
| Издатель: | Томский политехнический университет |
| Библиографическое описание: | Хоанг, Ф. Н. Сравнительный анализ нейросетевых моделей для прогнозирования степени технической годности литий-ионного аккумулятора / Ф. Н. Хоанг ; науч. рук. В. Г. Букреев // Бутаковские чтения : сборник статей V Всероссийской с международным участием молодёжной конференции, 9-11 декабря 2025 г., Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2025. — С. 109-111. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/135823 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| conference_tpu-2025-C133_p109-111.pdf | 851,94 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Лицензия на ресурс: Лицензия Creative Commons
