Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14732
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Chernyavski (Chernyavskiy), Aleksandr Viktorovich | ru |
dc.contributor.author | Kaz, M. S. | ru |
dc.date.accessioned | 2016-03-16T09:26:27Z | - |
dc.date.available | 2016-03-16T09:26:27Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Chernyavski (Chernyavskiy) A. V. Application of secondary ion mass spectrometer for measuring the diffusion profiles in alkali-halide crystals / A. V. Chernyavski (Chernyavskiy), M. S. Kaz // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials : International Scientific Conference, 3-8 November 2014, Tomsk, Russia : [proceedings]. — [012088, 4 p.]. | ru |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14732 | - |
dc.description.abstract | Depth profiles of magnesium, fluorine and oxygen impurities was examined in the surface layers of alkali-halide KBr crystals using method of secondary ion mass spectrometry. Samples of potassium bromide, coated with a surface film of magnesium fluoride were subjected to isothermal diffusion annealing in air at various times. It is shown that the diffusion of O ions occurs from the ambient atmosphere besides the diffusion of Mg and F ions during annealing of KBr crystals. Accurate estimation of the diffusion coefficients of cationic impurity Mg requires taking into account the possible interaction of this impurity and oxygen. | ru |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | IOP Publishing | ru |
dc.relation.ispartof | IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials. — United Kingdom, 2015. | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | масс-спектрометры | ru |
dc.subject | диффузия | ru |
dc.subject | щелочно-галоидные кристаллы | ru |
dc.title | Application of secondary ion mass spectrometer for measuring the diffusion profiles in alkali-halide crystals | ru |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePaper | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП) | ru |
local.description.firstpage | 120884 | - |
local.filepath | http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/81/1/012088 | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\network\8003 | - |
local.identifier.colkey | RU\TPU\col\19033 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\34159 | - |
local.localtype | Доклад | ru |
local.volume | 81 | - |
local.conference.name | Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials | - |
local.conference.date | 2014 | - |
dc.identifier.doi | 10.1088/1757-899X/81/1/012088 | - |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
012088.pdf | 756,46 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.