Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Сыртанов, Максим Сергеевич | ru |
dc.contributor.author | Завазиева, Д. Т. | ru |
dc.contributor.author | Сыртанов, Максим Сергеевич | ru |
dc.date.accessioned | 2016-04-08T11:17:42Z | - |
dc.date.available | 2016-04-08T11:17:42Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Завазиева Д. Т. Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции / Д. Т. Завазиева, М. С. Сыртанов ; науч. рук. М. С. Сыртанов // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 109-111]. | ru |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 | - |
dc.description.abstract | In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film. | ru |
dc.language.iso | ru | en |
dc.relation.ispartof | Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск, 2015. | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | толщина | ru |
dc.subject | покрытия | ru |
dc.subject | никель | ru |
dc.subject | рентгеновская дифракция | ru |
dc.title | Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции | ru |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePaper | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра общей физики (ОФ) | ru |
local.description.firstpage | 109 | - |
local.description.lastpage | 111 | - |
local.filepath | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2015/C21/027.pdf | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\conf\11065 | - |
local.identifier.colkey | RU\TPU\col\18734 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\34762 | - |
local.localtype | Доклад | ru |
local.conference.name | Перспективы развития фундаментальных наук | - |
local.conference.date | 2015 | - |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2015-C21-027.pdf | 201,56 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.