Методика радиационного контроля композиционных материалов

Abstract

Объектом исследования являются: метод определения толщины карбидокремниевого покрытия на углерод-углеродном основании и методика измерения метрологических характеристик томографической системы. Цель работы – разработка методики контроля толщины покрытия и метрологическое подтверждение измеренных данных. В процессе исследования проводились теоретические и экспериментальные работы, связанные с разработкой методики контроля толщины карбидокремниевого покрытия. В результате исследования проведены испытания для определения метрологических характеристик томографической системы и измерение толщины карбидокремниевого покрытия.

The object of the study: the method of determining the thickness of the silicon carbide coating on the carbon-carbon bottom and method for measuring metrological characteristics tomographic system. The purpose of work - development of methods for control of coating thickness and metrological confirmation of the measurement data. The study carried out theoretical and experimental work associated with the development of methods for control silicon carbide coating thickness. As a result of research carried out tests to determine the metrological characteristics of the tomographic measurement system and silicon carbide coating thickness.