Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33744
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorBarbin, Evgeny Sergeevichen
dc.contributor.authorKoleda, Aleksey Nikolaevichen
dc.contributor.authorNesterenko, Tamara Georgievnaen
dc.contributor.authorVtorushin, S.en
dc.date.accessioned2016-11-24T09:57:12Z-
dc.date.available2016-11-24T09:57:12Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationThree-axis MEMS Accelerometer for Structural Inspection / E. S. Barbin [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015) : III All-Russian Scientific and Practical Conference, 27–31 July 2015, Altai, Russia : [proceedings]. — [012003, 6 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/33744-
dc.description.abstractMicroelectromechanical system accelerometers are widely used for metrological measurements of acceleration, tilt, vibration, and shock in moving objects. The paper presents the analysis of MEMS accelerometer that can be used for the structural inspection. ANSYS Multiphysics platform is used to simulate the behavior of MEMS accelerometer by employing a finite element model and MATLAB/Simulink tools for modeling nonlinear dynamic systems.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectакселерометрыru
dc.subjectANSYSru
dc.subjectповедениеru
dc.subjectконечно-элементные моделиru
dc.subjectMatLabru
dc.subjectSimulinkru
dc.subjectнелинейные системыru
dc.subjectдинамические системыru
dc.titleThree-axis MEMS Accelerometer for Structural Inspectionen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра точного приборостроения (ТПС)ru
local.description.firstpage12003-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012003-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\12272-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18717-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36470-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\33286-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\30970-
local.localtypeДокладru
local.volume6712015-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/671/1/012003-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-671-1-012003.pdf1,14 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.