Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34806
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorKocharian (Kocharyan), Vagan Rashidovichen
dc.contributor.authorGogolev, Aleksey Sergeevichen
dc.contributor.authorKiziridi, A. A.en
dc.contributor.authorBatranin, Andrey Viktorovichen
dc.contributor.authorMuradyan, T. R.en
dc.date.accessioned2016-11-30T17:27:47Z-
dc.date.available2016-11-30T17:27:47Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationHard X–ray Laue monochromator / V. R. Kocharian (Kocharyan) [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine : VIII International Scientific Conference, 1–3 June 2016, Tomsk, Russia : [proceedings]. — [012018, 5 p.].ru
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/34806-
dc.description.abstractExperimental studies of X-ray diffraction from reflecting atomic planes (1011) of X-cut quartz single crystal in Laue geometry influenced by the temperature gradient were carried out. It is shown that by using the temperature gradient it is possible to reflect a hard Xray beam with photon energy near the 100 keV with high efficiency. It has been experimentally proved that the intensity of the reflected beam can be increased by more than order depending on the value of the temperature gradient.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingru
dc.relation.ispartofIOP Conference Series: Materials Science and Engineering. Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. — Bristol, 2016.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectмонохроматорыru
dc.subjectдифракцияru
dc.subjectрентгеновские лучиru
dc.subjectатомные плоскостиru
dc.subjectмонокристаллыru
dc.subjectпучкиru
dc.titleHard X–ray Laue monochromatoren
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)ru
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД)ru
local.description.firstpage12018-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\15485-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18729-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\21551-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\34228-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31537-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\32706-
local.localtypeДокладru
local.volume135-
local.conference.nameIssues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine-
local.conference.date2016-
dc.identifier.doi10.1088/1757-899X/135/1/012018-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-135-1-012018.pdf1,16 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.