Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/37886
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMalchik, Aleksandra Gennadievnaen
dc.contributor.authorLitovkin, Sergey Valerievichen
dc.contributor.authorFilonov, Alexandr Vladimirovichen
dc.contributor.authorUljyanova, Olga Viktorovnaen
dc.contributor.authorGromov, V. E.en
dc.date.accessioned2017-04-10T06:16:55Z-
dc.date.available2017-04-10T06:16:55Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationAcid-Base Properties Of Glass Substrate And SiO[2]-Bi[2]O[3]Thin-Film Systems Obtained On It / A. G. Malchik [et al.] // IOP Conference Series: Earth and Environmental Science. — 2017. — Vol. 50 : Ecology and safety in the technosphere: current problems and solutions : All-Russian research-to-practice conference, 17–19 November 2016, Yurga, Russian Federation. — [012048, 7 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/37886-
dc.description.abstractThe article describes an experimental research as a result of which SiO[2]–Bi[2]O[3] films have been synthesized of film-forming solutions based on tetraethoxysilane and bismuth nitrate (III). Acid-base properties of a glass substrate and SiO[2]–Bi[2]O[3] films obtained on it have been studied. The dependency of physical and chemical properties of SiO[2]–Bi[2]O[3] composites on their percentage composition have been revealed.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingru
dc.relation.ispartofIOP Conference Series: Earth and Environmental Science. Vol. 50 : Ecology and safety in the technosphere: current problems and solutions. — Bristol, 2017.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectкислотно-основные свойстваru
dc.subjectсубстратыru
dc.subjectтонкопленочные системыru
dc.subjectпленкиru
dc.subjectтетраэтоксисиланru
dc.subjectнитрат висмутаru
dc.subjectстеклянные подложкиru
dc.subjectфизические свойстваru
dc.subjectхимические свойстваru
dc.subjectкомпозитыru
dc.titleAcid-Base Properties Of Glass Substrate And SiO[2]-Bi[2]O[3]Thin-Film Systems Obtained On Iten
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ)::Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ)ru
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ)::Кафедра гуманитарного образования и иностранных языков (ГОИЯ)ru
local.description.firstpage12048-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1755-1315/50/1/012048-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\19506-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18930-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18978-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\34721-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\35617-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36221-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36457-
local.localtypeДокладru
local.volume50-
local.conference.nameEcology and safety in the technosphere: current problems and solutions-
local.conference.date2016-
dc.identifier.doi10.1088/1755-1315/50/1/012048-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1755-1315-50-1-012048.pdf670,14 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.