Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/38874
Название: | Разработка и исследование контрольных образцов и тест-панелей из неметалла с открытыми и тупиковыми трещинами для капиллярной дефектоскопии |
Авторы: | Зайцева, Анна Александровна |
Научный руководитель: | Калиниченко, Алексей Николаевич |
Ключевые слова: | контрольный образец; тест-панель; дефектоскопические материалы; трещина; капиллярный контроль; control samples; test panels; penetrant materials; crack; capillary contro |
Дата публикации: | 2017 |
Библиографическое описание: | Зайцева А. А. Разработка и исследование контрольных образцов и тест-панелей из неметалла с открытыми и тупиковыми трещинами для капиллярной дефектоскопии : магистерская диссертация / А. А. Зайцева ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) ; науч. рук. А. Н. Калиниченко. — Томск, 2017. |
Аннотация: | Цель работы – разработать тест-панели из неметалла; исследовать
контрольные образцы и тест-панели для капиллярного контроля из
неметалла; предложить инструментальный способ оценки качества наборов
дефектоскопических материалов.
В процессе исследования проводились работы по изготовлению тест-
панелей из неметалла по одному классу и трем классам чувствительности.
В результате исследования разработаны два варианта тест-панелей;
способ инструментальной оценки качества наборов дефектоскопических
материалов. Study of control samples from non-metal. Development and research of test panels from non-metal. Consideration of the method of instrumental evaluation of the quality of sets of penetrant materials |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/38874 |
Располагается в коллекциях: | Магистерские диссертации |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU365628.pdf | 1,57 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.