Разработка системы для послойного анализа дефектной структуры твёрдых тел методами позитронной аннигиляции

Abstract

Работа посвящена разработке системы для послойного анализа дефектной структуры твёрдых тел. Разработанная система основана на спектрометре Допплеровского уширения аннигиляционной линии с системой коллимации. В работе представлена конструкция установки, а также результат ее апробации на основе структур с контролируемым и неконтролируемым изменением дефектной структуры.

The work is devoted to the development of a system for layer analysis of the defective structure of solids. The developed system is based on the Doppler broadening spectrometer of the annihilation line with a collimation system. The design of the installation is presented in the work, as well as the result of its approbation on the basis of structures with controlled and uncontrolled changes in the defective structure.