1. Электронный архив ТПУ
  2. Образование
  3. Студенческие работы
  4. Выпускные квалификационные работы (ВКР)
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39631
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorШестаков, Василий Васильевичru
dc.contributor.authorЛачков, Иван Евгеньевичru
dc.date.accessioned2017-06-08T10:10:33Z-
dc.date.available2017-06-08T10:10:33Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationЛачков И. Е. Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419 : бакалаврская работа / И. Е. Лачков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) ; науч. рук. В. В. Шестаков. — Томск, 2017.-
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/39631-
dc.description.abstractЦель выпускной квалификационной работы разработка модуля тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе комплекса ДМТ 419. Разрабатываемый модуль используется для тестирования микросхем памяти, используемых в неблагоприятных условиях. По итогам работы был разработан модуль и программное обеспечение для ДМТ 419.ru
dc.description.abstractThe theme of my scientific work is the development of a module for testing memory chip based on the DMT 419 complex. This device analyzes the state of microchips after exposure to ionizing radiation. As a result, a module for testing memory chips based on the DMT 419.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoruen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess-
dc.subjectмодульru
dc.subjectмикросхема памятиru
dc.subjectмикроконтроллерru
dc.subjectинтерфейсru
dc.subjectДМТ 419ru
dc.subjectmoduleen
dc.subjectDMT 419en
dc.subjectchip memoryen
dc.subjectinterfaceen
dc.subjectflash memoryen
dc.titleМодуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419ru
dc.typeStudents work-
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)-
local.institut6267-
local.localtypeСтуденческая работа-
dc.subject.oksvnk12.03.01-
local.thesis.levelБакалаврru
local.thesis.disciplineПриборостроение-
local.local-vkr-id220129-
local.vkr-id20533-
local.stud-group1Б3А-
local.lichnost-id137913-
local.thesis.level-id1-
local.tutor-lichnost-id62183-
dc.subject.udc620.179.152:621.382.049.77:004.422.8-
Располагается в коллекциях:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU391176.pdf1,01 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика   Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.