Разработка дистанционно управляемого модуля тестирования микросхем памяти

Abstract

Дистанционно управляемый модуль тестирования микросхем памяти предназначен для контроля микросхем памяти на работоспособность. Разработка может быть использована в тех областях, где микросхемы подвергаются воздействию радиации, например ракетостроение, авиастроение. Преимуществом данного модуля является то, что контроль микросхем можно проводить дистанционно. Это позволит избежать облучения персонала при работе и траты времени на доставку микросхемы к месту контроля. Это устройство построено на основе микроконтроллера ATmega 128. Для его программирования используется программатор JTAG ICE XP II. Алгоритм тестирования написан на языке программирования С++. К основным достоинствам разработанного модуля можно отнести простоту изготовления, малую себестоимость.

A remotely controlled memory chip testing module is designed to monitor memory chips for operability. The development can be used in those areas where the microcircuits are exposed to radiation, for example rocketry, aircraft construction. The advantage of this module is that the control of microcircuits can be carried out remotely. This will avoid exposure to personnel during work and waste of time for the delivery of the chip to the control site. This device is built on the basis of the microcontroller ATmega 128. For its programming, the JTAG ICE XP II programmer is used. The testing algorithm is written in the C ++ programming language. The main advantages of the developed module include ease of manufacture, low cost.