Деградационные изменения в газовых электронных умножителях под воздействием плотных потоков рентгеновского излучения

Abstract

Газовые электронные умножители (ГЭУ) нашли широкое применение в детектирующих системах в области физики высоких энергий. Однако в ходе их эксплуатации в высоких плотностях потока частиц наблюдаются деградационные изменения, связанные с изменением геометрии отверстий ГЭУ в результате травления изолирующего полиимидного слоя. В этой связи данная работа была направлена на установление влияния эксплуатационных параметров на деградационные свойства умножителей в ходе продолжительных систематических измерений характеристик детектора под воздействием плотных потоков рентгеновского излучения.

Gas Electron Muttiplier (GEM) detectors are known to operate stably at high gains and high particle fluxes. Though, at very high gains and fluxes, it was observed that the insulating polyimide layer between the GEM electrodes gets etched, changing the original shape of the hole, and therefore varying the gain and the energy resolution of the detector. Despite having found effective solutions to this issue, the real processes involved remain not clarified. A set of systematic measurements performed within the frameworks of presetn work, can be helpful on the way of understanding degradation processes.