Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/41362
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorLinnik, Stepan Andreevichru
dc.contributor.authorOkhotnikov, Vitaly Vladimirovichen
dc.contributor.authorLinnik, Stepan Andreevichen
dc.contributor.authorGaydaychuk, Alexander Valerievichen
dc.date.accessioned2017-07-17T22:01:57Z-
dc.date.available2017-07-17T22:01:57Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationOkhotnikov V. V. Investigation of the applied voltage influence on the ionizing radiation particles detecting by diamond detectors / V. V. Okhotnikov, S. A. Linnik, A. V. Gaydaychuk ; sci. adv. S. A. Linnik, A. K. Ustyuzhanina // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — Т. 1 : Физика. — [С. 30-32].ru
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/41362-
dc.description.abstractМы сообщаем об исследовании влияния приложенного напряжения на способность алмазных детекторов улавливать и передавать пригодный для считывания сигнал ионизирующего излучения. Измерения проводились на образцах детекторов поликристаллического алмаза детекторного качества (5 мм × 5 мм × 500 мкм) в диапазоне напряжений от -1000 В до 1000 В путем облучения β- частицами Sr.ru
dc.language.isoenen
dc.publisherИзд-во ТПУru
dc.relation.ispartofПерспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. Т. 1 : Физика. — Томск, 2017.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectалмазные детекторыru
dc.subjectионизирующее излучениеru
dc.subjectнапряженияru
dc.subjectполикристаллыru
dc.subjectоблучениеru
dc.titleInvestigation of the applied voltage influence on the ionizing radiation particles detecting by diamond detectorsen
dc.title.alternativeИсследование влияния прикладываемого напряжения на детектирование частиц ионизирующего излучения алмазными детекторамиru
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт физики высоких технологий (ИФВТ)::Лаборатория № 1ru
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра иностранных языков физико-технического института (ИЯФТ)ru
local.description.firstpage30-
local.description.lastpage32-
local.filepathconference_tpu-2017-C21_V1_p30-32.pdf-
local.identifier.bibrecRU\TPU\conf\21437-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\19035-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18736-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\36453-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\32877-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\32876-
local.localtypeДокладru
local.volume1-
local.conference.nameПерспективы развития фундаментальных наук-
local.conference.date2017-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2017-C21_V1_p30-32.pdf450,42 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.