1. Электронный архив ТПУ
  2. Наука
  3. Материалы конференций
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/43879
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorKapul, A. A.en
dc.contributor.authorZubova, E. I.en
dc.contributor.authorTorgaev, Stanislav Nikolaevichen
dc.contributor.authorDrobchik, V. V.en
dc.date.accessioned2017-11-08T09:07:40Z-
dc.date.available2017-11-08T09:07:40Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationPure-tone audiometer / A. A. Kapul [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2017. — Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017) : International Conference, 27–30 June 2017, Novosibirsk, Russian Federation : [proceedings]. — [012010, 9 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/43879-
dc.description.abstractThe research focuses on a pure-tone audiometer designing. The relevance of the study is proved by high incidence of an auditory analyser in older people and children. At first, the article provides information about subjective and objective audiometry methods. Secondly, we offer block-diagram and basic-circuit arrangement of device. We decided to base on STM32F407VG microcontroller and use digital pot in the function of attenuator. Third, we implemented microcontroller and PC connection. C programming language is used for microcontroller's program and PC's interface. Fourthly, we created the pure-tone audiometer prototype. In the future, we will implement the objective method ASSR in addition to pure-tone audiometry.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingru
dc.relation.ispartofJournal of Physics: Conference Series. Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017). — Bristol, 2017.en
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectаудиометрыru
dc.subjectслуховые аппаратыru
dc.subjectаудиометрияru
dc.subjectмикроконтроллерыru
dc.subjectанализаторыru
dc.subjectслухru
dc.subjectдиагностикаru
dc.titlePure-tone audiometeren
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Институт неразрушающего контроля (ИНК)::Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)ru
local.description.firstpage12010-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/881/1/012010-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\22728-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18719-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31663-
local.localtypeДокладru
local.volume8812017-
local.conference.nameInnovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017)-
local.conference.date2017-
dc.identifier.doi10.1088/1742-6596/881/1/012010-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-881-1-012010.pdf862,65 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика   Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.