Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44571
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorПономарев, С. В.ru
dc.contributor.authorАзин, А. В.ru
dc.contributor.authorЖуков, А. А.ru
dc.contributor.authorПономарев, С. А.ru
dc.date.accessioned2017-12-05T05:19:43Z-
dc.date.available2017-12-05T05:19:43Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationАзин А. В. Метод оценки долговечности контактных соединений компонентов электронных плат при произвольной нагрузке / А. В. Азин, А. А. Жуков, С. А. Пономарев ; науч. рук. С. В. Пономарев // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — Т. 3 : Математика. — [С.11-13].ru
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/44571-
dc.description.abstractThis paper describes a method for assessing the durability of contact joints BGA and PGA components of electronic circuit boards with an arbitrary load. The method on the experimental data and the results of numerical simulation of contact connections at working loads is based. The implementation of this method is shown in the example of the electronic board evaluation period of the service under cyclic thermal loads. Application of this method of electronic circuit board manufacturers will predict the service life of the developed products.en
dc.language.isoruen
dc.publisherИзд-во ТПУru
dc.relation.ispartofПерспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. Т. 3 : Математика. — Томск, 2017.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectконтактные соединенияru
dc.subjectмеханические характеристикиru
dc.subjectмикрочипыru
dc.subjectаппроксимацияru
dc.subjectдеформацииru
dc.titleМетод оценки долговечности контактных соединений компонентов электронных плат при произвольной нагрузкеru
dc.title.alternativeMethod for evaluating durability of components contact connections of electronic boards for arbitrary loaden
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.description.firstpage11-
local.description.lastpage13-
local.filepathconference_tpu-2017-C21_V3_p11-13.pdf-
local.identifier.bibrecRU\TPU\conf\24170-
local.localtypeДокладru
local.volume3-
local.conference.nameПерспективы развития фундаментальных наук-
local.conference.date2017-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2017-C21_V3_p11-13.pdf466,77 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.