Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44571
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Пономарев, С. В. | ru |
dc.contributor.author | Азин, А. В. | ru |
dc.contributor.author | Жуков, А. А. | ru |
dc.contributor.author | Пономарев, С. А. | ru |
dc.date.accessioned | 2017-12-05T05:19:43Z | - |
dc.date.available | 2017-12-05T05:19:43Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Азин А. В. Метод оценки долговечности контактных соединений компонентов электронных плат при произвольной нагрузке / А. В. Азин, А. А. Жуков, С. А. Пономарев ; науч. рук. С. В. Пономарев // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — Т. 3 : Математика. — [С.11-13]. | ru |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44571 | - |
dc.description.abstract | This paper describes a method for assessing the durability of contact joints BGA and PGA components of electronic circuit boards with an arbitrary load. The method on the experimental data and the results of numerical simulation of contact connections at working loads is based. The implementation of this method is shown in the example of the electronic board evaluation period of the service under cyclic thermal loads. Application of this method of electronic circuit board manufacturers will predict the service life of the developed products. | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Изд-во ТПУ | ru |
dc.relation.ispartof | Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. Т. 3 : Математика. — Томск, 2017. | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | контактные соединения | ru |
dc.subject | механические характеристики | ru |
dc.subject | микрочипы | ru |
dc.subject | аппроксимация | ru |
dc.subject | деформации | ru |
dc.title | Метод оценки долговечности контактных соединений компонентов электронных плат при произвольной нагрузке | ru |
dc.title.alternative | Method for evaluating durability of components contact connections of electronic boards for arbitrary load | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePaper | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.description.firstpage | 11 | - |
local.description.lastpage | 13 | - |
local.filepath | conference_tpu-2017-C21_V3_p11-13.pdf | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\conf\24170 | - |
local.localtype | Доклад | ru |
local.volume | 3 | - |
local.conference.name | Перспективы развития фундаментальных наук | - |
local.conference.date | 2017 | - |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2017-C21_V3_p11-13.pdf | 466,77 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.