Создание метрологической базы данных шумовых характеристик транзисторов

Abstract

Объект исследования – испытательный стенд, предназначенный для определения шумовых характеристик транзисторов. Цель работы – модернизация и тестирование испытательного стенда, создание базы данных по результатам проведения цикла испытаний транзисторов на испытательном стенде. Актуальность работы заключается в том, что при создании прецизионных устройств, содержащих транзисторы, необходимо учитывать не только шумовые характеристики типа транзистора из технической документации, но и действительные шумовые характеристики для отдельного экземпляра, поэтому возникает необходимость в испытательном стенде и создании базы данных на основе полученных результатов. Результатом работы является создание метрологической базы данных, которая содержит в себе шумовые характеристики транзисторов.

Research object – the test bench intended for definition of noise characteristics of transistors. The work purpose – modernization and testing of the test bench, creation of the database on results of carrying out a cycle of tests of transistors at the test bench. The relevance of work is in what during creation of the precision devices containing transistors it is necessary to consider not only noise characteristics like the transistor from technical documentation, but also the valid noise characteristics for a separate copy therefore there is a need for the test bench and creation of the database on the basis of the received results. Creation of the metrological database which comprises noise characteristics of transistors is result of work.