Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67365
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Воронова, Гульнара Альфридовна | ru |
dc.contributor.author | Пань, Мэнхуа | ru |
dc.date.accessioned | 2021-06-18T12:17:08Z | - |
dc.date.available | 2021-06-18T12:17:08Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | Пань М. Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов : бакалаврская работа / М. Пань ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ), Отделение материаловедения (ОМ) ; науч. рук. Г. А. Воронова. — Томск, 2021. | - |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67365 | - |
dc.description.abstract | В процессе исследования проводились обзор литературы, посвященный современному состоянию применения атомно-силовой микроскопии для исследования анодного оксида алюминия; разработка методики обработки АСМ-изображений; исследование поверхности анодного оксида алюминия. В результате исследования установлено, что использование атомно-силовой микроскопии имеет актуальную повестку; использование различных методик обработки АСМ-изображений не всегда позволяют избежать дефектов и инородных объектов при сканировании образцов. Основные конструктивные, технологические и технико-эксплуатационные характеристики: разработанная методика обработки АСМ-изображений для исключения дефектов и инородных объектов. | ru |
dc.description.abstract | In the course of the study, a literature review was carried out on the current state of the use of atomic force microscopy for the study of anodic aluminum oxide; development of a method for processing AFM images; investigation of the surface of anodic aluminum oxide. As a result of the study, it was found that the use of atomic force microscopy has an urgent agenda; the use of various methods for processing AFM images does not always allow avoiding defects and foreign objects when scanning samples. Main design, technological and technical and operational characteristics: developed method for processing AFM images to exclude defects and foreign objects. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | - |
dc.language.iso | ru | en |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | - |
dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru |
dc.subject | анодный оксид алюминия | ru |
dc.subject | обработка АСМ-изображений | ru |
dc.subject | артефакт | ru |
dc.subject | программное обеспечение Image Analysis | ru |
dc.subject | atomic force microscopy | en |
dc.subject | anodic alumina | en |
dc.subject | AFM image processing | en |
dc.subject | artifact | en |
dc.subject | Image Analysis software | en |
dc.title | Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов | ru |
dc.type | Students work | - |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ)::Отделение материаловедения (ОМ) | - |
local.institut | 7870 | - |
local.localtype | Студенческая работа | - |
dc.subject.oksvnk | 22.03.01 | - |
local.thesis.level | Бакалавр | ru |
local.thesis.discipline | Материаловедение и технологии материалов | - |
local.local-vkr-id | 988670 | - |
local.vkr-id | 47450 | - |
local.stud-group | 154Б72 | - |
local.lichnost-id | 172390 | - |
local.thesis.level-id | 1 | - |
local.tutor-lichnost-id | 56812 | - |
dc.subject.udc | 620.186-408:661.8'02-022.532 | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU1170481.pdf | 1,64 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.