Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350
Название: Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия
Другие названия: Analysis and processing of AFM images of anodic aluminum oxide
Авторы: Гришанков, А. А.
Пань Мэнхуа
Цзи Синьюй
Научный руководитель: Воронова, Гульнара Альфридовна
Ключевые слова: анализ; обработка; изображения; оксид алюминия; атомно-силовая микроскопия; поверхности
Дата публикации: 2021
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Гришанков, А. А. Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия / А. А. Гришанков, Пань Мэнхуа, Цзи Синьюй ; науч. рук. Г. А. Воронова // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XVIII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 27-30 апреля 2021 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2021. — Т. 1 : Физика. — [С. 97-99].
Аннотация: Atomic force microscopy is a unique technique that allows you to see and measure the surface structure of a sample quickly, with high resolution and accuracy. AFM greatly simplifies the study of the anodic oxide aluminium surface. In this study, we showed how the analysis and processing of images obtained on an atomic force microscope takes place. Methods for obtaining high-quality AFM images using various software were shown.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2021-C21_V1_p97-99.pdf1,7 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.