Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72134
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Воронова, Гульнара Альфридовна | ru |
dc.contributor.author | Люй, Айцзя - | ru |
dc.date.accessioned | 2022-06-18T20:07:08Z | - |
dc.date.available | 2022-06-18T20:07:08Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.citation | Люй А. -. Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов : бакалаврская работа / А. -. Люй ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ), Отделение материаловедения (ОМ) ; науч. рук. Г. А. Воронова. — Томск, 2022. | - |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72134 | - |
dc.description.abstract | В ходе исследования проведен литературный обзор современного состояния изучения анодированного алюминия с помощью атомно-силовой микроскопии, разработка методов обработки АСМ-изображений, исследования поверхности анодированного алюминия. По результатам исследования установлено, что применение АСМ имеет актуальную повестку дня, использование различных методов обработки АСМизображений не всегда позволяет избежать дефектов и посторонних предметов при сканировании образцов. | ru |
dc.description.abstract | In the course of the study, a literary review of the current state of the study of anodized aluminum using atomic force microscopy, the development of methods for processing AFM images, and the study of the surface of anodized aluminum was carried out. According to the results of the study, it was found that the use of AFM has an urgent agenda, the use of various AFM image processing methods does not always avoid defects and foreign objects when scanning samples. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | - |
dc.language.iso | ru | en |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | - |
dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru |
dc.subject | анодированный оксид алюминия | ru |
dc.subject | обработка изображений АСМ | ru |
dc.subject | Gwddion | ru |
dc.subject | анализ изображений | ru |
dc.subject | atomic force microscopy | en |
dc.subject | anodized aluminum oxide | en |
dc.subject | AFM image processing | en |
dc.subject | Gwddion | en |
dc.subject | image analysis | en |
dc.title | Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов | ru |
dc.type | Students work | - |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ)::Отделение материаловедения (ОМ) | - |
local.institut | 7870 | - |
local.localtype | Студенческая работа | - |
dc.subject.oksvnk | 22.03.01 | - |
local.thesis.level | Бакалавр | ru |
local.thesis.discipline | Материаловедение и технологии материалов | - |
local.local-vkr-id | 1187197 | - |
local.vkr-id | 49093 | - |
local.stud-group | 154Б82 | - |
local.lichnost-id | 176533 | - |
local.thesis.level-id | 1 | - |
local.tutor-lichnost-id | 56812 | - |
dc.subject.udc | 620.187:661.8 | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU1373564.pdf | 1,41 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.