Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/80549
Название: | Возможность измерения профилей пучка частиц проволочным методом с использованием ионизационных камер |
Авторы: | Бушмина, Елизавета Алексеевна Булавская, Ангелина Александровна Григорьева, Анна Анатольевна |
Научный руководитель: | Стучебров, Сергей Геннадьевич |
Ключевые слова: | ионизационная камера; метод проволочного сканирования; электронные пучки; диагностика пучка; фотоны |
Дата публикации: | 2024 |
Издатель: | Томский политехнический университет |
Библиографическое описание: | Бушмина, Е. А. Возможность измерения профилей пучка частиц проволочным методом с использованием ионизационных камер / Е. А. Бушмина, А. А. Булавская, А. А. Григорьева ; науч. рук. С. Г. Стучебров ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет // Перспективы развития фундаментальных наук — Томск : Изд-во ТПУ, 2024. — Т. 1 : Физика. — С. 82-84. |
Аннотация: | For high-quality operation of modern accelerator technology, a necessary condition is to ensure the specified characteristics of the extracted beam. The position of the particle beam in space and its transverse intensity distribution are determined using wire scanning method. To implement this method, when the detecting device moves linearly in a plane perpendicular to the beam propagation axis, the authors of the work propose to study ionization chamber as a detector. Ionization chambers have significant advantages, such as high radiation resistance, sensitivity to radiation with low currents, ease of use and the ability to measure data in real time. As a result, an ionization chamber was developed and tested. The profilometer prototype was tested on the Microtron MT-25 installation at an electron energy of 7 MeV. As a result of experimental studies on an electron beam, it was shown that the ionization chamber makes it possible to determine the position of the beam and measure its size with high resolution (no worse than 1 mm), which means that such a device is applicable as a profilometer detector |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/80549 |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2024-C21_V1_p82-84.pdf | 700,8 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Лицензия на ресурс: Лицензия Creative Commons