Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1007| Title: | Нанотвердость и износостойкость высокопрочных сталей 38ХНЗМФА и ШХ-15, имплантированных ионами (Al+B), (Ti+B), Ti |
| Authors: | Сунгатулин, А. Р. Сергеев, О. В. Пушкарева, Г. В. Сергеев, Виктор Петрович |
| Keywords: | нанотвердость; износостойкость; высокопрочные стали; ионы; поверхностные слои; образцы; облучение; пучки; механические свойства; облучение; структурно-фазовые состояния; элементный состав; приповерхностные слои; имплантация; просвечивающая электронная микроскопия; масс-спектрометрия |
| Issue Date: | 2006 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Нанотвердость и износостойкость высокопрочных сталей 38ХНЗМФА и ШХ-15, имплантированных ионами (Al+B), (Ti+B), Ti / В. П. Сергеев [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 1. — [С. 120-125]. |
| Abstract: | Исследовано изменение нанотвердости и износостойкости поверхностного слоя образцов сталей 38ХН3МФА и ШХ-15 при облучении пучками ионов (Al+B), (Ti+В) и Ti. Обнаружено более высокое увеличение механических свойств при облучении композициями ионов. Величина эффекта возрастает с увеличением дозы облучения. При этом наиболее значительное увеличение износостойкости наблюдается при облучении сталей ионами (Al+B), а нанотвердости - при облучении ионами (Ti+В). Интерпретация результатов основывается на изменении структурно-фазового состояния и элементного состава приповерхностного слоя при имплантации, которое исследовалось методами просвечивающей электронной микроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1007 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2006-309-1-25.pdf | 713,24 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.