Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/139430| Название: | Исследование детекции дефектов поверхности литиевых батарей на основе YOLO26m |
| Авторы: | Ван Чжаофу Чжи Жуйпэн |
| Научный руководитель: | Друки, Алексей Алексеевич |
| Ключевые слова: | литиевые батареи; детекция дефектов; глубокое обучение; компьютерное зрение; агломерация; YOLO26m |
| Дата публикации: | 2026 |
| Издатель: | Томский политехнический университет |
| Библиографическое описание: | Ван Чжаофу. Исследование детекции дефектов поверхности литиевых батарей на основе YOLO26m / Ван Чжаофу, Чжи Жуйпэн ; науч. рук. Друки А. А. // Научная инициатива иностранных студентов и аспирантов : сборник докладов VI Международной научно-практической конференции, Томск, 20-23 апреля 2026 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2026. — С. 223-227. |
| Аннотация: | Данная работа посвящена проблеме детекции дефектов при производстве электродов литиевых батарей. Предложен метод глубокого обучения на основе модели YOLO26m. В ходе обучения на четырех типах дефектов (агломерация, пузырьки, трещины и царапины) модель показала значение mAP50 на уровне 97,7 %, что подтверждает высокую точность и потенциал для промышленного применения |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/139430 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| conference_tpu-2026-C19_p223-227.pdf | 604,98 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Лицензия на ресурс: Лицензия Creative Commons
