Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14927
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Воротилов, Константин Анатольевич | ru |
dc.contributor.author | Лучников, Петр Александрович | ru |
dc.contributor.author | Подгорный, Юрий Владимирович | ru |
dc.contributor.author | Серегин, Дмитрий Сергеевич | ru |
dc.date.accessioned | 2016-03-17T11:29:00Z | - |
dc.date.available | 2016-03-17T11:29:00Z | - |
dc.date.issued | 2011 | - |
dc.identifier.citation | Особенности измерения диэлектрической проницаемости тонких пленок МДП-структур / К. А. Воротилов [и др.] // Вестник науки Сибири. — 2011. — № 1 (1). — [С. 220-228]. | ru |
dc.identifier.issn | 2226-0064 | - |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14927 | - |
dc.description.abstract | Представлена методика точных измерений диэлектрической проницаемости ? изолирующих пленок нанометровых толщин в МДП-структурах на основе нелинейной аппроксимации экспериментальных зависимостей эквивалентной емкости МДП-структуры от частоты. В диапазоне частот четырехэлементная модель хорошо отражает комплексный импеданс МДП-структуры в аккумуляции. Учитывается влияние краевой емкости. Метрологические характеристики методики подтверждены результатами измерения ? пленки термического оксида кремния толщиной ~80 нм на кремнии. Получено значение диэлектрической проницаемости 3,825 с погрешностью 1,2 % при случайной составляющей 0,13 %. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | - |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Томский политехнический университет | ru |
dc.relation.ispartof | Вестник науки Сибири. 2011. № 1 (1) | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.source | Вестник науки Сибири | ru |
dc.subject | МДП-структуры | ru |
dc.subject | тонкие пленки | ru |
dc.subject | диэлектрическая проницаемость | ru |
dc.subject | изолирующие пленки | ru |
dc.subject | термические оксиды | ru |
dc.subject | краевой эффект | ru |
dc.subject | омический контакт | ru |
dc.title | Особенности измерения диэлектрической проницаемости тонких пленок МДП-структур | ru |
dc.type | Article | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.description.firstpage | 220 | - |
local.description.lastpage | 228 | - |
local.filepath | http://sjs.tpu.ru/journal/article/viewPDFInterstitial/49/78 | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\prd\144280 | - |
local.issue | 1 | - |
local.localtype | Статья | ru |
Располагается в коллекциях: | Векторы благополучия: экономика и социум |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
78.pdf | 759,33 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.