Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20080
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMiloichikova, Irina Alekseevnaen
dc.contributor.authorPovolna, A.en
dc.contributor.authorStuchebrov, Sergey Gennadevichen
dc.contributor.authorNaumenko, Gennadiy Andreevichen
dc.date.accessioned2016-04-12T23:41:49Z-
dc.date.available2016-04-12T23:41:49Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationComparison of the calculated and experimental dataof the extracted electron beam profile / I. A. Miloichikova [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 93: Modern Technique and Technologies (MTT'2015) : 21th International Conference for Students and Young Scientists, 5-9 October 2015, Tomsk : [proceedings]. — [012067, 4 p.].en
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/20080-
dc.description.abstractThe current commercial use of electron accelerators grows in research, industry,medical diagnosis and treatment. Due to this fact, the creation of a model describing theelectron beam profile and shape is an actual task. The model of the TPU microtron extractedelectron beam created in the program "Computer Laboratory (PCLab)" is described andcompared with experimental results in this article. The value of the internal electron beamdivergence determination is illustrated. The experimental data of the electron beam profilesat the selected distances from the output window are analysed and compared with thesimulation data. The simulation data of the electron beam profiles are shown.en
dc.language.isoenen
dc.publisherIOP Publishingen
dc.relation.ispartofIOP Conference Series: Materials Science and Engineering. Vol. 93: Modern Technique and Technologies (MTT'2015). — United Kingdom, 2015.en
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectрасчетные данныеru
dc.subjectэкспериментальные данныеru
dc.subjectэлектронные пучкиru
dc.subjectускорителиru
dc.subjectпрофилиru
dc.subjectэлектроныru
dc.subjectмикротроныru
dc.subjectмоделированиеru
dc.titleComparison of the calculated and experimental dataof the extracted electron beam profileen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)ru
local.description.firstpage12067-
local.filepathhttp://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/93/1/012067-
local.identifier.bibrecRU\TPU\network\9646-
local.identifier.colkeyRU\TPU\col\18729-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\35525-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31559-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\31524-
local.localtypeДокладru
local.volume932015-
local.conference.nameModern Technique and Technologies (MTT'2015)-
local.conference.date2015-
dc.identifier.doi10.1088/1757-899X/93/1/012067-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-93-1-012067.pdf1,09 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.