Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20080
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Miloichikova, Irina Alekseevna | en |
dc.contributor.author | Povolna, A. | en |
dc.contributor.author | Stuchebrov, Sergey Gennadevich | en |
dc.contributor.author | Naumenko, Gennadiy Andreevich | en |
dc.date.accessioned | 2016-04-12T23:41:49Z | - |
dc.date.available | 2016-04-12T23:41:49Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Comparison of the calculated and experimental dataof the extracted electron beam profile / I. A. Miloichikova [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 93: Modern Technique and Technologies (MTT'2015) : 21th International Conference for Students and Young Scientists, 5-9 October 2015, Tomsk : [proceedings]. — [012067, 4 p.]. | en |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20080 | - |
dc.description.abstract | The current commercial use of electron accelerators grows in research, industry,medical diagnosis and treatment. Due to this fact, the creation of a model describing theelectron beam profile and shape is an actual task. The model of the TPU microtron extractedelectron beam created in the program "Computer Laboratory (PCLab)" is described andcompared with experimental results in this article. The value of the internal electron beamdivergence determination is illustrated. The experimental data of the electron beam profilesat the selected distances from the output window are analysed and compared with thesimulation data. The simulation data of the electron beam profiles are shown. | en |
dc.language.iso | en | en |
dc.publisher | IOP Publishing | en |
dc.relation.ispartof | IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. Vol. 93: Modern Technique and Technologies (MTT'2015). — United Kingdom, 2015. | en |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | расчетные данные | ru |
dc.subject | экспериментальные данные | ru |
dc.subject | электронные пучки | ru |
dc.subject | ускорители | ru |
dc.subject | профили | ru |
dc.subject | электроны | ru |
dc.subject | микротроны | ru |
dc.subject | моделирование | ru |
dc.title | Comparison of the calculated and experimental dataof the extracted electron beam profile | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePaper | en |
dcterms.audience | Researches | en |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Физико-технический институт (ФТИ)::Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) | ru |
local.description.firstpage | 12067 | - |
local.filepath | http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/93/1/012067 | - |
local.identifier.bibrec | RU\TPU\network\9646 | - |
local.identifier.colkey | RU\TPU\col\18729 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\35525 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\31559 | - |
local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\31524 | - |
local.localtype | Доклад | ru |
local.volume | 932015 | - |
local.conference.name | Modern Technique and Technologies (MTT'2015) | - |
local.conference.date | 2015 | - |
dc.identifier.doi | 10.1088/1757-899X/93/1/012067 | - |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-93-1-012067.pdf | 1,09 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.