Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/63650| Title: | Определение истинной поверхности наноразмерных осадков родия методом инверсионной вольтамперометрии |
| Authors: | Курцевич, Е. А. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Колпакова, Нина Александровна |
| Keywords: | поверхности; осадки; инверсионная вольтамперометрия; родий; селективное окисление; свинец; графитовые электроды |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Курцевич Е. А. Определение истинной поверхности наноразмерных осадков родия методом инверсионной вольтамперометрии / Е. А. Курцевич ; науч. рук. Н. А. Колпакова // Химия и химическая технология в XXI веке : материалы XXI Международной научно-практической конференции студентов и молодых ученых имени выдающихся химиков Л. П. Кулёва и Н. М. Кижнера, посвященной 110-летию со дня рождения профессора А. Г. Стромберга, 21–24 сентября 2020 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2020. — [С. 266-267]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/63650 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2020-C27_p266-267.pdf | 696,14 kB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
