Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/132816| Title: | Первый глобальный высокоточный анализ абсолютных интенсивностей линий поглощения 24 полос октады молекулы SiH4 |
| Other Titles: | The first global high-precision analysis of absolute absorption line intensities of 24 bands of the SiH4 molecule octad |
| Authors: | Горбачева, Е. Д. Николаева, В. Е. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Громова, Ольга Васильевна |
| Keywords: | absolute intensities; the Voigt profile; the Hartmann-Tran profile; silane |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Горбачева, Е. Д. Первый глобальный высокоточный анализ абсолютных интенсивностей линий поглощения 24 полос октады молекулы SiH4 / Е. Д. Горбачева, В. Е. Николаева ; науч. рук. О. В. Громова // Перспективы развития фундаментальных наук. — Томск : Изд-во ТПУ, 2025. — Т. 1 : Физика. — С. 71-73. |
| Abstract: | In the present study, we analyzed highly detailed infrared spectra of SiH₄. The analysis of absolute absorption line intensities of 24 bands of the SiH4 molecule octad was performed using the wxspe2 program. The contours of 4022 lines were described by Voigt and Hartmann-Tran contours in the weak spectrum and 1008 lines in the strong spectrum |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/132816 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| conference_tpu-2025-C21_V1_p71-73.pdf | 969,76 kB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
