Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13568
Название: | О некоторых особенностях зависимости конденсаторной фотоэдс от электрического поля в системе Si-SiO2 |
Авторы: | Зайдман, С. А. Курындина, Н. К. Свирякин, Д. И. |
Дата публикации: | 1975 |
Издатель: | Томский политехнический университет |
Библиографическое описание: | Зайдман С. А. О некоторых особенностях зависимости конденсаторной фотоэдс от электрического поля в системе Si-SiO2 / С. А. Зайдман, Н. К. Курындина, Д. И. Свирякин // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1975. — Т. 280 : Неразрушающие методы контроля. — [С. 126-129]. |
Аннотация: | В работе исследуется поведение сигнала фотоэдс (?Уф) в системе полупроводник - диэлектрик (Si-SiO2) в зависимости от поверхностного потенциала (УS0) и оцениваются возможности метода фотоэдс для анализа границы раздела полупроводник - диэлектрик. Показано, что метод весьма чувствителен к параметрам поверхностных состояний. Для экспериментальных зависимостей ?Уф = ?Уф(УS0) характерен ряд особенностей, которые полностью не объясняются в рамках существующей теории конденсаторной фотоэдс. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13568 |
Располагается в коллекциях: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
bulletin_tpu-1975-v280-30_bw.pdf | Black-and-white version of the preview | 203,22 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
bulletin_tpu-1975-v280-30_full.pdf | Color version | 4,37 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.