Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13947
Title: Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии
Authors: Горбунов, Владимир Иванович
Покровский, А. В.
Темник, Анатолий Константинович
Issue Date: 1976
Publisher: Томский политехнический университет
Citation: Горбунов В. И. Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии / В. И. Горбунов, А. В. Покровский, А. К. Темник // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1976. — Т. 296 : Неразрушающие методы контроля. — [С. 38-41].
Abstract: В статье показана возможность повышения чувствительности радиометрического метода контроля толстостенных изделий. Рассмотрены возможности понижения уровня шумов регистрирующей аппаратуры. За счет использования многоканальных схем накопления информации и использования гребенчатых фильтров. Данные усовершенствования аппаратуры позволят повысить чувствитель­ность контроля на 30%.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13947
Appears in Collections:Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
bulletin_tpu-1976-v296-08_bw.pdfBlack-and-white version of the preview198,81 kBAdobe PDFView/Open
bulletin_tpu-1976-v296-08_full.pdfColor version5,12 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.