Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Давыдов, В. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Троян, П. Е. | ru |
| dc.contributor.author | Зайцев, Н. Г. | ru |
| dc.contributor.author | Беляев, С. В. | ru |
| dc.date.accessioned | 2015-11-20T02:46:43Z | - |
| dc.date.available | 2015-11-20T02:46:43Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.citation | Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур / В. Н. Давыдов [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 8. — [С. 42-46]. | ru |
| dc.identifier.issn | 1684-8519 | - |
| dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446 | - |
| dc.description.abstract | Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды. | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | - |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Томский политехнический университет | ru |
| dc.relation.ispartof | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. 2006. Т. 309, № 8 | - |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
| dc.source | Известия Томского политехнического университета | - |
| dc.subject | автоматизированные комплексы | - |
| dc.subject | исследования | - |
| dc.subject | полупроводниковые структуры | - |
| dc.subject | свойства | - |
| dc.subject | электрофизические характеристики | - |
| dc.subject | фотоэлектрические характеристики | - |
| dc.subject | измерительные методики | - |
| dc.subject | схемотехнические решения | - |
| dc.subject | конструкторско-технологические решения | - |
| dc.subject | аналоги | - |
| dc.subject | параметры | - |
| dc.subject | температура | - |
| dc.subject | влажность | - |
| dc.subject | окружающая среда | - |
| dc.title | Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур | ru |
| dc.type | Article | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
| dcterms.audience | Researches | en |
| local.description.firstpage | 42 | - |
| local.description.lastpage | 46 | - |
| local.filepath | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf | - |
| local.identifier.bibrec | RU\TPU\book\186338 | - |
| local.issue | 8 | - |
| local.localtype | Статья | ru |
| local.volume | 309 | - |
| Располагается в коллекциях: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2006-309-8-09.pdf | 6,94 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.