Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorДавыдов, В. Н.ru
dc.contributor.authorТроян, П. Е.ru
dc.contributor.authorЗайцев, Н. Г.ru
dc.contributor.authorБеляев, С. В.ru
dc.date.accessioned2015-11-20T02:46:43Z-
dc.date.available2015-11-20T02:46:43Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationАвтоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур / В. Н. Давыдов [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 8. — [С. 42-46].ru
dc.identifier.issn1684-8519-
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446-
dc.description.abstractРазработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoruen
dc.publisherТомский политехнический университетru
dc.relation.ispartofИзвестия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. 2006. Т. 309, № 8-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.sourceИзвестия Томского политехнического университета-
dc.subjectавтоматизированные комплексы-
dc.subjectисследования-
dc.subjectполупроводниковые структуры-
dc.subjectсвойства-
dc.subjectэлектрофизические характеристики-
dc.subjectфотоэлектрические характеристики-
dc.subjectизмерительные методики-
dc.subjectсхемотехнические решения-
dc.subjectконструкторско-технологические решения-
dc.subjectаналоги-
dc.subjectпараметры-
dc.subjectтемпература-
dc.subjectвлажность-
dc.subjectокружающая среда-
dc.titleАвтоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структурru
dc.typeArticleen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen
dcterms.audienceResearchesen
local.description.firstpage42-
local.description.lastpage46-
local.filepathhttp://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2006/v309/i8/09.pdf-
local.identifier.bibrecRU\TPU\book\186338-
local.issue8-
local.localtypeСтатьяru
local.volume309-
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-2006-309-8-09.pdf6,94 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.