Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446| Title: | Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур |
| Authors: | Давыдов, В. Н. Троян, П. Е. Зайцев, Н. Г. Беляев, С. В. |
| Keywords: | автоматизированные комплексы; исследования; полупроводниковые структуры; свойства; электрофизические характеристики; фотоэлектрические характеристики; измерительные методики; схемотехнические решения; конструкторско-технологические решения; аналоги; параметры; температура; влажность; окружающая среда |
| Issue Date: | 2006 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур / В. Н. Давыдов [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 8. — [С. 42-46]. |
| Abstract: | Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446 |
| ISSN: | 1684-8519 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2006-309-8-09.pdf | 6,94 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.