Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446
Название: Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур
Авторы: Давыдов, В. Н.
Троян, П. Е.
Зайцев, Н. Г.
Беляев, С. В.
Ключевые слова: автоматизированные комплексы; исследования; полупроводниковые структуры; свойства; электрофизические характеристики; фотоэлектрические характеристики; измерительные методики; схемотехнические решения; конструкторско-технологические решения; аналоги; параметры; температура; влажность; окружающая среда
Дата публикации: 2006
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Автоматизированный комплекс для исследования полупроводниковых структур / В. Н. Давыдов [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2006. — Т. 309, № 8. — [С. 42-46].
Аннотация: Разработан автоматизированный комплекс для исследования свойств полупроводниковых структур, позволяющий измерять широкий набор их электрофизических и фотоэлектрических характеристик за счет применения доработанных авторами измерительных методик, схемотехнических и конструкторско-технологических решений. По сравнению с известными аналогами комплекс позволяет измерять более широкий набор параметров структур с более высокой точностью. При этом повышена долговременная стабильность измерений и независимость результатов измерений от температуры и влажности окружающей среды.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/1446
ISSN: 1684-8519
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-2006-309-8-09.pdf6,94 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.