Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14726
Название: About accuracy of the discrimination parameter estimation for the dual high-energy method
Авторы: Osipov, Sergey Pavlovich
Chakhlov, Sergey Vladimirovich
Осипов, Олег Сергеевич
Stein, Aleksandr Mikhailovich
Strugovtsev, D. V.
Ключевые слова: высокая энергия; дискриминация; рентгеновские излучения; бетатроны; импульсы
Дата публикации: 2015
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: About accuracy of the discrimination parameter estimation for the dual high-energy method / S. P. Osipov [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials : International Scientific Conference, 3-8 November 2014, Tomsk, Russia : [proceedings]. — [012082, 13 p.].
Аннотация: A set of the mathematical formulas to estimate the accuracy of discrimination parameters for two implementations of the dual high energy method - by the effective atomic number and by the level lines is given. The hardware parameters which influenced on the accuracy of the discrimination parameters are stated. The recommendations to form the structure of the high energy X-ray radiation impulses are formulated. To prove the applicability of the proposed procedure there were calculated the statistical errors of the discrimination parameters for the cargo inspection system of the Tomsk polytechnic university on base of the portable betatron MIB-9. The comparison of the experimental estimations and the theoretical ones of the discrimination parameter errors was carried out. It proved the practical applicability of the algorithm to estimate the discrimination parameter errors for the dual high energy method.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14726
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
012082.pdf1,02 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.