Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14732
Название: Application of secondary ion mass spectrometer for measuring the diffusion profiles in alkali-halide crystals
Авторы: Chernyavski (Chernyavskiy), Aleksandr Viktorovich
Kaz, M. S.
Ключевые слова: масс-спектрометры; диффузия; щелочно-галоидные кристаллы
Дата публикации: 2015
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Chernyavski (Chernyavskiy) A. V. Application of secondary ion mass spectrometer for measuring the diffusion profiles in alkali-halide crystals / A. V. Chernyavski (Chernyavskiy), M. S. Kaz // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials : International Scientific Conference, 3-8 November 2014, Tomsk, Russia : [proceedings]. — [012088, 4 p.].
Аннотация: Depth profiles of magnesium, fluorine and oxygen impurities was examined in the surface layers of alkali-halide KBr crystals using method of secondary ion mass spectrometry. Samples of potassium bromide, coated with a surface film of magnesium fluoride were subjected to isothermal diffusion annealing in air at various times. It is shown that the diffusion of O ions occurs from the ambient atmosphere besides the diffusion of Mg and F ions during annealing of KBr crystals. Accurate estimation of the diffusion coefficients of cationic impurity Mg requires taking into account the possible interaction of this impurity and oxygen.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/14732
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
012088.pdf756,46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.