Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
Название: Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции
Авторы: Завазиева, Д. Т.
Сыртанов, Максим Сергеевич
Научный руководитель: Сыртанов, Максим Сергеевич
Ключевые слова: толщина; покрытия; никель; рентгеновская дифракция
Дата публикации: 2015
Библиографическое описание: Завазиева Д. Т. Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции / Д. Т. Завазиева, М. С. Сыртанов ; науч. рук. М. С. Сыртанов // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 109-111].
Аннотация: In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2015-C21-027.pdf201,56 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.