Setup for characterization of indirect converting X-Ray detectors

Abstract

Современные источники рентгеновского излучения позволяют изучение динамических процессов в таких областях как биология, медицина, материаловедение и тд. Точность процесса измерения напрямую зависит от возможностей системы детектирования. Быстродействующие цифровые камеры являются ключевыми элементами непрямой системы детектирования. Данные камеры обладают набором параметров влияющих на качество получаемых данных. Два основных типа быстродействующих камер, используемых в системах непрямого детектирования, отличаются только архитектурой сенсора: ПЗС и КМОП сенсоры. В настоящей работе мы представляем установку для получения характеристик данных сенсоров Visible Light Setup (VLS), разработанную в Институте Синхротронного Излучения Технологического Института Карлсруэ. Собранная установка позволяет проводить оценку таких характеристик камер, как: неоднородности сенсора, дефектные пиксели, линейность, шумовые характеристики, спектральная чувствительность и тд. Результаты работы позволяют точную оценку параметров камеры непосредственно перед проведением эксперимента на станциях синхротронного излучения благодаря дополнительно произведенной автоматизации процесса оценки и обработки данных.