Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2047| Title: | Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B> |
| Authors: | Зыков, Владимир Михайлович Киселёв, А. Н. |
| Keywords: | фотопроводимость; примесная фотопроводимость; индуцированная фотопроводимость; глубокое охлаждение; ионизирующие излучения; радиационные исследования; аппаратура |
| Issue Date: | 2008 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Зыков В. М. Аппаратура для радиационных исследований индуцированной примесной фотопроводимости в монокристаллическом SI<B> / В. М. Зыков, А. Н. Киселёв // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2008. — Т. 312, № 2 : Математика и механика. Физика. Приложение: Неразрушающий контроль и диагностика. — [С. 79-88]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2047 |
| ISSN: | 1684-8519 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2008-312-2app-15.pdf | 10,92 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.